本文標題："干涉顯微鏡的應用-金相研究中主要用于檢查磨片質量"
發布者：YIYI ------ 分類: 站內動態 ------ 人瀏覽過 -----時間：2014-12-24 16:35:21
干涉儀在金相研究中主要用于檢查磨片質量，
確定腐蝕規范，測定金相試片上結構組分浮雕的大
小，以及測定塑性變形時的滑移量等，它和相襯的
差別在于相襯主要用于顯露組織細節，以提高圖象
襯度；顯微干涉儀則主要浮雕大小作出定量評定。
微差干涉襯度
微差干涉襯度的基本概念
如前所述，在干涉條件下所觀察到的視場是干涉
條紋疊加著顯微組織。當用一定波長的單色光觀察
時，干涉條紋的間隔等于波長的1/2。
當試樣中相鄰組織高低略有差別時，其間就具有微
小光程差，這將導致干涉條紋的位移。由于位移的
結果，使原條紋亮處的第二相變黑，原條紋黑處的
第二相變亮。如果把條紋間隔展寬到一個視場，
則微小的光程差，就很靈敏地轉化為亮度差，這就
叫做微差干涉襯度。若用白色光來觀察，則可得到
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干涉顯微鏡的應用-金相研究中主要用于檢查磨片質量,熒光顯微鏡現貨供應
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